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 JX-2000B型显微图像分析
应用范围:
   配置透反射显微镜,适用于冶金、电子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、医药、金属、非金属矿等各种粉体颗粒的形貌观察和粒度分析;还可用于陶瓷.金属合金等各种不透光的物体表面结构的观察测试。     
      

主要性能:光学显微镜放大成像,专业级摄像头,高速高分辨率图像采集卡,图像动态快速显示于
           电脑,直接观察粉体颗粒的形貌,专用软件进行粒度分析。全平场消色差物镜,最大分
           辨率0.07微米,最大光学放大倍数1600倍,图像显示和打印最大倍数4000倍(A4幅面)。
测量范围:0.5μm~2000μm
分析软件:提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积等分布数据。同时提供
           D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等数据,配有(30)多种图像分析和处理功
           能,可以满足各种图像处理需要。
测量结果:颗粒形貌可存盘打印,还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求,设计磨
           料、硅灰石等专用软件。
测量方法:透射:将样品置于载玻片上,运行专用软件,由电脑分析处理,计算数据。
           反射:将样品置于物镜下方,运行专用软件,由电脑分析处理,计算数据。

处理功能图示:
图像采集 ( 各种金相图)
 
 
图像分析处理 (具有二值化、填充、分割、删除、边界滤波、面积滤波、粒子属性查看、设置标尺
 网格等多种功能)。
图像处理前:                         图像处理后:
 
 
注:透射功能和JX-2000A型相同
结果打印(多种数据)
 
仪器测试报格式>>
 
 
 
 
 
   
 

联系电话:028-83173777  传真:028-83195667  联系人:陈立书 13980051653  
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